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ProSp-RTM-UV全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用,如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。 ProSp-RTM-UV测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。
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