埃赛力达近期为其Optem®FUSION®微探测透镜系统推出了新的扩展功能。在升级改造后，它能满足短波红外（SWIR）传感器不断增长的需求及工业4.0制造所需的机器视觉要求。现在，该透镜系统可为关键的可见光（400nm-700nm），近红外NIR（700nm-1100nm）和短波红外波段SWIR（900nm-1700nm）提供真正的多色成像性能。

由于秉承了Qioptiq®光学的先进技术，埃赛力达全新的Optem FUSION SWIR透镜系统可通过经现场验证的灵活的机械化光学和模块互换性提供独特的光学平台，以满足各行各业的应用需求，并避免因自定义成像解决方案带来的复杂性以及较长的开发周期和较高的成本。

为了在各种放大倍率和工作距离中提供高性能及多功能短波红外成像，埃赛力达对所选的优异的OptemFUSION透镜系统的SWIR兼容组件进行了优化及改进，包括：

·下物镜，具有多种放大倍率和工作距离

·7：1变焦模块

·固定的放大系统

·相机管镜头可针对传感器各种尺寸和安装类型提供一系列放大倍率

·可为关键的同轴光源提供分束器

Optem FUSION SWIR具有各种摄像管镜头，并支持市面上现有的所有短波红外的摄像机。由于可为各种标准相机提供适配器，它还适用于各国相机，并能电动操作变焦和聚焦，这使其成为全自动探测解决方案。

这款新的SWIR透镜系统可将经现场验证的Optem FUSION可见光范围性能与可达额外波段的新功能相结合，因此适用于含多种模态的独特应用。它还可同步配置可见光、近红外或短波红外通道系统，并提供之前无法访问的附加信息及性能，包括高光谱成像和图像融合。此外，由于Optem FUSION微成像镜头系统已得到普遍认可，现在400nm至1700nm的光学解决方案和优化的图像传感器已率先用于单个平台，这为工业4.0开辟了全新的机器视觉方法。

“机器视觉在工业4.0自动化系统中发挥着重要作用，也越来越依赖来自传感器和视觉系统的信息，以识别产品缺陷，获取缺陷根源并实现实时有效的干预和纠正，”埃赛力达应用工程师Michael Bulk说，“随着超出可见波长范围的经典探测窗口的推出，我们可开发出更振奋人心的新技术和应用，包括新的对准技术和材料识别技术。”

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