荧光显微镜（fluorescence microscopy，FM）和电子显微镜（electron microscopy，EM）是显微成像的互补技术。 FM可对大视野进行观察并快速识别目标区域，但分辨率低。 EM虽观察视野受限，但在视野范围内表现出优异的分辨率。相关显微镜将这两种技术结合，在过去几年中引起了研究人员相当大的关注，且其在生物学和材料科学方面的潜力也已被证明。然而，由于机制竞争，视场大小和分辨率的差异，提高FM和EM图像结合的精确相关性具有挑战性。本文提供了一种准确，快速和稳健的方法，使用低密度的基准标记来关联FM和EM图像。实验中用荧光标记涂覆二氧化硅的金纳米颗粒，将其120nm直径作为基准标记。该方法依赖于FM图像，低倍放大率EM和高倍放大率的EM图像。构造FM到低放大率EM和低放大率EM到高放大率EM的两个线性变换矩阵。这些矩阵的组合可实现FM图到高放大率EM图的高精度坐标变换。使用两种不同的透射电子显微镜和不同的切片测试该方法，并证实了该相关方法的总体准确度很高，为5-30nm。

将FM与高放大率TEM图像相关联的步骤。

微信分享

x

用微信扫描二维码
分享至好友和朋友圈

网站内容来源于互联网、原创，由网络编辑负责审查，目的在于传递信息，提供专业服务，不代表本网站及新媒体平台赞同其观点和对其真实性负责。如因内容、版权问题存在异议的，请在 20个工作日内与我们取得联系，联系方式：021-80198330。网站及新媒体平台将加强监控与审核，一旦发现违反规定的内容，按国家法规处理，处理时间不超过24小时。