相干x射线光谱学揭示了岛结构在逐层生长过程中的持久性
2019-03-17
浏览量(383)
了解外延薄膜生长过程中的表面动力学是制备性能可控的高质量材料的关键。利用相干x射线的x射线光子相关光谱(XPCS)为原位观察晶体生长过程中的原子尺度波动动力学提供了新的机会。近日,来自美国的研究人员提出了XPCS测量在逐层模式的同外延生长中的二维岛动力学。利用双时间关联分析结果揭示了一个新的现象——在连续的晶体层上形成的岛排列中的记忆效应。模拟表明,这种岛布局的持久性来自于不同层次的岛之间通过吸附原子进行的通信。随着新的相干x射线源在世界范围内的出现,该类首创的实验和分析方法将使XPCS能够广泛应用于观察表面的原子尺度过程。
实验原理和岛的漫反射示意图
微信分享
x
用微信扫描二维码
分享至好友和朋友圈
分享至好友和朋友圈
免责声明:
网站内容来源于互联网、原创,由网络编辑负责审查,目的在于传递信息,提供专业服务,不代表本网站及新媒体平台赞同其观点和对其真实性负责。如因内容、版权问题存在异议的,请在 20个工作日内与我们取得联系,联系方式:021-80198330。网站及新媒体平台将加强监控与审核,一旦发现违反规定的内容,按国家法规处理,处理时间不超过24小时。