错位缺陷上的拓扑光捕获
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拓扑绝缘体(Topological Insulator)具有非平庸的无能隙边界态(edge state),可以有效地抑制无序结构所引起的背散射(back-scattering),导致拓扑边界态比传统光学模式更加稳健(robust)。在光子学中,这种实现光捕获(light-trapping)的边界态可以作为光子集成器件中的单向波导(unidirectional waveguide)。 一般而言,二维光子系统中存在一维(1D)的拓扑边界态,但却很难在其中实现受拓扑保护的零维(0D)腔模(cavity mode)。最近,来自南京大学的蒲殷副教授、伍瑞新教授,与苏州大学的蒋建华教授课题组和加拿大多伦多大学的Sajeev John教授合作,向我们证明在被称为双拓扑结构(dual-topology)的并行波矢空间(concurrent wavevector space)和实空间(real-space)拓扑中,可能会导致较低维度的光捕获light-trapping效应。他们从理论上提出并通过微波实验研究发现,在二维光子晶体位错(dislocation)位置上所得到的光子束缚态是以Jackiw-Rebbi光孤子模式出现的,这种强约束的腔模式是稳健的、不受微扰影响。该研究揭示了一种低维拓扑光捕获机制,有可能对厄密/费厄密系统中的拓扑激光、时空对称性研究、三维光子晶体中的一维拓扑位错态、准周期光子晶体等方面有着重要的启发意义。相关研究发表在近期的《Nature Communications》上。
本文在D维光子系统中,实现了D-2维的光学拓扑态,这对于在更低维度上实现和利用“鲁棒”的拓扑态具有重要的研究意义。
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