激光等离子体中硅离子的K壳层谱线的测量和分析
2018-06-30
浏览量(113)
由北京师范大学牵头，国内七家单位组成的联合研究团队发布了神光二号激光系统产生的等离子体中关于硅K壳层谱线的实验测量和理论分析结果，并讨论了谱线比例在激光等离子体电子密度和温度诊断中的应用。
研究者们进行了两种不同类型的激光脉冲发射，以此来解释两种不同条件下的硅等离子体光谱，并且测量了波长在6.6埃到6.85埃范围内的光谱。研究者们使用基于灵活原子代码软件包的辐射-碰撞代码程序进行计算，以此来辨识这些谱线，并且该程序的计算结果也很好地模拟出了实验光谱结果。由双电子俘获和大辐射衰减率产生的伴线会显著地影响光谱的线型。
由于谱线的混杂，传统的G值和R值不适用于诊断等离子体的电子温度和密度。研究者们在计算He-α谱线的谱线比例时考虑了伴线的贡献，并讨论了它们与电子温度和密度的关系。
微信分享
![]()
x
用微信扫描二维码
分享至好友和朋友圈
分享至好友和朋友圈
免责声明：
网站内容来源于互联网、原创，由网络编辑负责审查，目的在于传递信息，提供专业服务，不代表本网站及新媒体平台赞同其观点和对其真实性负责。如因内容、版权问题存在异议的，请在 20个工作日内与我们取得联系，联系方式：021-80198330。网站及新媒体平台将加强监控与审核，一旦发现违反规定的内容，按国家法规处理，处理时间不超过24小时。
沪公安网备 31011402003710号