共聚焦激光显微镜（CLM）是生命科学研究和工业检测中一种强大的工具，因为它能够提供二维光学层析成像或具有微米深度选择性的三维成像能力。此外，无扫描成像模式能够实现快速图像采集，并且可以提高对CLM周围外部干扰的鲁棒性。然而，由于图像对比度与光强有关，所以待测量的物体必须是能够反射或吸收或散射光，或能够自发荧光的。如果能够通过光学相位提供新的图像对比度，则非扫描CLM能够进一步应用于探测具有纳米尺度不均匀性的透明非荧光物体或反射性物体，以提供物体有关折射率、光学厚度或几何形状的信息。在本文中，我们阐述了通过无扫描共聚焦双光梳显微镜提供相位图像，以及通过使用光学频率梳作为拥有分立超多通道的振幅和相位的光学载波得到具有深度选择性的振幅图像。我们的方法将样本的共焦振幅和相位图像编码到拥有明确的振幅和相位的光学频率梳中的一系列离散模式中，以建立图像像素和光梳模式之间的一一对应关系。其后该方法从具有幅度和相位的光梳模式中解码这些图像。我们在本文中展示了毫秒时间尺度下具有微米深度选择性的毫弧度相位分辨率的共焦相位成像。作为概念证明试验，我们展示了固定培养细胞的定量相位成像和纳米尺度台阶结构的表面形貌。我们的共聚焦相位成像技术将应用于叠层活细胞培养和半导体物体的纳米表面形貌的三维可视化。

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